HAST高压加速老化试验箱是一种用于对电子元器件和材料进行快速老化测试的设备。它主要通过提高温度和湿度来模拟恶劣环境条件，从而加速产品老化过程。通常在100°C至150°C的温度范围内，以及相对湿度达到85%至95%的条件下进行测试。这种条件下，试验箱可以在相对较短的时间内模拟出类似于长时间自然老化过程的效果。配备了一套控制系统，用于监测和调节温度、湿度等参数，以确保测试的准确性和可靠性。